SiO2 tabanlı Ni81Fe19 nanometrik manyetik ince filmin ısı kapasitesinin incelenmesi
Künye
Kaya, S. (2010). SiO2 tabanlı Ni81Fe19 nanometrik manyetik ince filmin ısı kapasitesinin incelenmesi (Yüksek Lisans Tezi)Özet
Öz ısı malzemelerin termal karakterizasyonu için vazgeçilmez bir özelliktir. Bu çalışmada
2,5 nm ve 5,0 nm Ni81Fe19 ile kaplanmış SiO2 tabanlı ince film numunelerin bazı
termal özellikleri incelendi. Numunelerin DSC (Diferansiyel Taramalı Kalorimetre) analizleri
300-800 K arasında çalışıldı. Öz Isılarının belirli ısıtma hızları için sıcaklıkla ve numune
kalınlığı ile değişimi, Sürekli Referanslı Cp Ölçüm Yöntemi ile analiz edildi. Referans
numune olarak safir kullanıldı. Numunelerin yapıları EDAX ve SEM analizleri ile incelendi.
Ayrıca öz ısıların ısıtma hızı ile değişimi de incelendi. Specific heat is an indispensable property for thermal characterization of materials. In this
study, some thermal properties of SiO2 based 2,5 nm and 5,0 nm Ni81Fe19 monolayer thin
films were investigated. Differential Scanning Calorimeter (DSC) analysis of the samples
were studied between 300-800 K. Temperature and thickness dependencies of specific heat of
the samples for some heating rates were analyzed with Continuous Cp With Reference
Method. Sapphire is used as the reference sample. The structures of samples have been
investigated by SEM and EDAX analysis. The change of specific heat by heat rate is also
investigated.
Koleksiyonlar
- Tez Koleksiyonu [29]