Browsing Fen Bilimleri Enstitüsü by Subject "Sürekli Referanslı Cp Ölçüm Yöntemi"
Now showing items 1-1 of 1
-
SiO2 tabanlı Ni81Fe19 nanometrik manyetik ince filmin ısı kapasitesinin incelenmesi
(Yozgat Bozok Üniversitesi Fen Bilimleri Enstitüsü, 2010)Öz ısı malzemelerin termal karakterizasyonu için vazgeçilmez bir özelliktir. Bu çalışmada 2,5 nm ve 5,0 nm Ni81Fe19 ile kaplanmış SiO2 tabanlı ince film numunelerin bazı termal özellikleri incelendi. Numunelerin DSC ...